原子光譜之--原子熒光光譜分析法

 

Ø原子熒光光譜分析法（AFS）是用一定強(qiáng)度的激發(fā)光源（線光源或連續(xù)光源）發(fā)射具有特征信號(hào)的光照射含有一定濃度的待測(cè)元素的原子蒸氣后，其中的自由原子被激發(fā)躍遷到高能態(tài)，然后去激發(fā)躍遷到某一較低能態(tài)，（常常是基態(tài)）或去激發(fā)躍遷到不同于原來能態(tài)的另一較低能態(tài)而發(fā)射出各種特征原子熒光光譜，據(jù)此可以辨別元素的存在，并可以根據(jù)測(cè)量的熒光強(qiáng)度求得待測(cè)樣品中的含量。
     If=K I0 N0 此式為原子熒光分析的基本關(guān)系式，該式說明，在一定的條件下，熒光強(qiáng)度If與基態(tài)原子數(shù)N0成正比，也即If與待測(cè)原子濃度成正比。
 
ØAFS的主要特點(diǎn)：
Ø（1）靈敏度較高；
Ø（2）熒光譜線比較簡(jiǎn)單，因此光譜干擾小；
Ø（3）分析曲線的線性范圍寬；
Ø（4）原子熒光是向各個(gè)方向輻射的，便于發(fā)展多道儀器進(jìn)行多元素同時(shí)測(cè)定。
 
Ø原子熒光分析（AFS）和原子吸收光譜分析（AAS）的異同點(diǎn)。
Ø  AFS和AAS有不同又有相同相似之處。
Ø（1）兩者的原理有本質(zhì)上的不同，AFS是發(fā)射光譜分析，AAS則屬于吸收光譜分析。AFS測(cè)量的原子熒光強(qiáng)度和AAS測(cè)量的吸光度都與基態(tài)原子濃度成正比關(guān)系。
Ø（2）儀器結(jié)構(gòu)和操作手續(xù)非常相似。但是AAS的儀器裝置形式是光源—原子化器---單色器---檢測(cè)器是一直線，而AFS的光源與單色器不是在一直線上，而是成90º，且AFS必須是使用強(qiáng)光源。
Ø（3）檢出限方面，AFS比AAS好，精密度這兩種方法大致相同，相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差僅為1%。
Ø（4）干擾情況相似，化學(xué)干擾、物理干擾和光譜干擾對(duì)兩個(gè)方法的影響相似，但程度有不同，這與它們所采用的光源特性有關(guān)系。在AFS中光的散射干擾在一定程度上比AAS嚴(yán)重。同時(shí)AFS中的熒光猝滅效應(yīng)對(duì)熒光強(qiáng)度的影響也是比較嚴(yán)重的，以致在測(cè)定復(fù)雜基體的試樣及高含量樣品時(shí)，尚有一定的困難。此外，散射光的干擾也是原子熒光分析中的一個(gè)麻煩問題。
Ø（5）與AAS比較，AFS還具有：多元素同時(shí)測(cè)定，儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單（非色散原子熒光儀），靈敏度高等優(yōu)點(diǎn)。
Ø（6）與AAS比較， AFS需要高濃度酸，標(biāo)準(zhǔn)需要預(yù)還原，實(shí)驗(yàn)條件較嚴(yán)等。